产品保障-北京星灿智显科技有限公司

五重检测体系
构建“零缺陷”产品品控闭环

星灿智显不仅检测产品，更定义可靠的标准。通过覆盖“芯片-封装-模组”的闭环质量体系，
将不可控的风险转化为可管理的数据，从根本上保障每一块出厂模组的极致稳定与长效品质。

三重缺陷检测

光电性能测试

双85环境测试

老化测试

模组综合测评

三重缺陷检测

在晶圆与芯片阶段，通过两次高精度AOI视觉检测，实现兆像素级缺陷识别，提前拦截微观瑕疵；封装完成后，进行全像素阵列扫描，确保每颗芯片在集成前均达到优良标准。三重过滤，让缺陷无处可藏。

光电性能测试

元旭半导体针对每颗精选LED器件实施全检建档，生成独立光电参数报告，保证光电性能的一致性。数据不仅用于分选优化，更为后续模块匹配提供科学依据，从根源提升显示均匀性。

双85环境测试

在温度85℃、湿度85%的严苛环境中进行长时间稳定性测试，模拟高温高湿恶劣工况，确保芯片与封装结构在极端条件下依然性能可靠，延长产品在户外及复杂环境中的使用寿命。

老化测试

通过持续通电与循环负载老化测试，模拟实际使用中的长期工作状态。主动筛选并剔除早期失效风险，确保出厂模组已通过“时间”考验，性能曲线稳定可靠。

模组综合测评

在模组集成完成后，进行整体光电性能、色彩一致性、灰度响应、拼接效果等多维度测试，确保每一个出厂单元不仅单体优秀，更在系统集成中表现卓越。